Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych | |
Cena promocyjna: 27.41 zł Oszczędzasz: 3.04 zł /-10%/ |
Autor: | Jerzy Rutkowski, |
ISBN: | 83-206-1484-8 |
Wydawnictwo: | Wydawnictwa Komunikacji i Łączności WKŁ |
Ilość stron: | 176 |
Ilość rysunków: | 56 |
Ilość tabel: | 51 |
Wydanie: | 1 |
Format: | B5 |
Oprawa: | twarda |
Wysokie wymagania stawiane masowo produkowanym i powszechnie stosowanym układom elektronicznym sprawiają, że kontrola jakości nabiera szczególnego znaczenia. Skutecznymi i zweryfikowanymi w praktyce metodami testowania analogowych układów elektronicznych są tzw. metody słownikowe, w których na etapie symulacji przedtestowych jest konstruowany sygnaturowy słownik uszkodzeń. Na etapie potestowym dane pomiarowe, po przetworzeniu, są porównywane z sygnaturami, co pozwala wykryć uszkodzenie i ewentualnie je zlokalizować. W książce opisano właśnie takie metody testowania. Wykorzystują one najnowsze narzędzia i techniki obliczeniowe, takie jak: sieci neuronowe, techniki ewolucyjne czy zbiory rozmyte i można je łatwo zaadaptować do diagnostyki układów analogowych innych niż elektroniczne. W monografii o charakterze podręcznika opisano podstawy techniki testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych oraz przegląd wszystkich praktycznie wykorzystywanych metod i technik stosowanych w diagnostyce opartej na słowniku. Na końcu dokonano oceny podsumowującej przegląd metod diagnostyki ze wskazaniem zalet i wad oraz oceną przydatności poszczególnych metod do wykrywania różnego rodzaju uszkodzeń.
Odbiorcy: inżynierowie projektanci i użytkownicy analogowych układów scalonych, jak również studenci wydziałów elektroniki wyższych uczelni technicznych oraz słuchacze studiów doktoranckich w dziedzinie elektroniki.
Książka wydana jako wspólne przedsięwzięcie Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej i Wydawnictw Komunikacji i Łączności.
Odbiorcy: inżynierowie projektanci i użytkownicy analogowych układów scalonych, jak również studenci wydziałów elektroniki wyższych uczelni technicznych oraz słuchacze studiów doktoranckich w dziedzinie elektroniki.
Książka wydana jako wspólne przedsięwzięcie Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej i Wydawnictw Komunikacji i Łączności.
- WYKAZ WAŻNIEJSZYCH OZNACZEŃ I SKRÓTÓW
- WIADOMOŚCI WSTĘPNE
- WPROWADZENIE DO PROBLEMATYKI TESTOWANIA ANALOGOWYCH UKLADÓW ELEKTRONICZNYCH
- 2.1. Systematyka testowania
2.2. Klasyfikacja oraz źródła uszkodzeń
2.3. Obszar tolerancji, obszar sprawności oraz inne definicje
2.4. Klasyfikacja metod wykorzystujących testowanie uszkodzeń
2.5. Podsumowanie - TESTOWANIE WYKORZYSTUJĄCE SYMULACJĘ PRZEDTESTOWĄ
- 3.1. Ogólny opis podejścia słownikowego
3.2. Słownik sygnaturowy typu integer code – koncepcja ogólna
3.3. Optymalizacja doboru punktów testowych - WYKORZYSTANIE ANALIZY WRAŻLIWOŚCIOWEJ DO KONSTRUKCJI SŁOWNIKA SYGNATUROWEGO
- 4.1. Podstawy analizy wrażliwościowej
4.2. Odwzorowanie obszaru tolerancji z przestrzeni parametrów w przestrzeń pomiarów i wyznaczanie zbiorów niejednoznaczności
4.3. Optymalizacja punktów testowych i wyznaczanie sygnatur - NEURONOWY SŁOWNIK USZKODZEŃ
- 5.1. Wykorzystanie sieci neuronowej do klasyfikacji uszkodzeń
- WYKORZYSTANIE KONCEPCJI ZBIORÓW ROZMYTYCH DO KONSTRUKCJI SŁOWNIKA USZKODZEŃ
- 6.1. Podstawy teorii zbiorów rozmytych
6.2. Rozmyty słownik uszkodzeń
6.3. Słownik rozmyty wykorzystujący klasyfikator neuronowy - WYKORZYSTANIE EWOLUCYJNYCH TECHNIK OBLICZENIOWYCH W DIAGNOSTYCE USZKODZEŃ ANALOGOWYCH
- 7.1. Wprowadzenie do problematyki ewolucyjnych technik obliczeniowych
7.2. Wykorzystanie algorytmu genetycznego do optymalizacji punktów testowych
7.3. Słownik uszkodzeń wykorzystujący programowanie genetyczne
7.4. Wykorzystanie strategii ewolucyjnej do optymalizacji testowania dynamicznego - SŁOWNIK USZKODZEŃ WYKORZYSTUJĄCY KONCEPCJĘ NIEZMIENNOŚCI SEKWENCJI WRAŻLIWOŚCI
- PODSUMOWANIE
LITERATURA
SKOROWIDZ
Kategorie:
Elektronika,